离子溅射
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XPS表征:原理、步骤、谱图分析及安装指南
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FIB-SEM: 二维成像、三维断层扫描与TEM薄片制备
总结: 作为材料研究中的多功能强大工具,聚焦离子束–扫描电镜(FIB-SEM)可实现多尺度多维度的精细微观结构分析。之前的文章主要介绍FIB-SEM中的聚焦束与物质相互…