二次离子质谱

说明：本文华算科技介绍了掺杂的定义、核心特征及与混合、包覆等概念的边界，重点讲解了成分分布表征和结构表征技术，如电感耦合等离子体发射光谱、X射线光电子能谱、能量色散X射线光谱、二次…

二次离子质谱（Secondary Ion Mass Spectrometry，SIMS）技术凭借其超高灵敏度和精准分析能力，广泛应用于半导体、材料科学及生物医疗等领域。其核心是是通…