说明：同步辐射光源被誉为“科技神灯”，其X射线吸收精细结构谱学技术（XAFS）是分析材料结构、揭示理化性质的关键工具。XAFS包括X射线吸收近边结构（XANES）和扩展X射线吸收精细结构（EXAFS）。
XANES可揭示吸收原子的电子结构，EXAFS能提供配位环境详细信息。XAFS技术核心是探究原子配位环境，而同步辐射XAFS数据的处理则是实现这一目标的关键环节。本文华算科技将详细介绍如何使用Athena软件进行XAFS数据处理的具体步骤。
1、Athena软件界面主要由三个窗口组成：分别是主窗口、后台运行窗口、图形显示窗口。
2、主窗口介绍：主要包括主菜单、参数设置区域、作图区域等。
1、将文件拖到页面中。
2、勾选Numerator 2(I0)+Denominator 3(I1)+Nature log（透射模式）（这里用Pt foil数据代替）。
1、Select a point——双击一阶导数最高峰的顶点——将E0值修改——Calibrate。
2、确定E0，一般默认一阶导数最大位置：点击E0——双击一阶导数最大位置。
1、通过调整Pre-edge-range和Normalization-range四个点的横坐标位置，使pre-edge line贴合边前曲线，post-edge line尽可能均匀的穿过边后震荡曲线，如图所示。
一般情况，Pre-edge-range不用调节，Normalization-range修改原则是让线均匀地穿过每个振荡中心。
2、然后点击Normalized
1、点击K，勾选Window，出现的红色框是进行傅里叶变换得到R空间的有效范围，K范围可以设置（根据数据好坏确定）。
2、设置完成后，点击R，注意K权重选择。
1）一般根据配位原子序数Z决定，Z，n为3，36，n为2，Z>57，n为1。
2）通常拟合权重3是最好的，因为权重越大，对高K区的信号分辨率越高，特别是存在金属配位的情况，高权重金属配位分辨率越高。
3）我一般参考文献选择
1、选择Deglitch and truncate data。
2、点choose a point，然后双击要删除的点，然后点击remove point。
3、如果是测试两元素的能量接近，需要截断处理，可以输入数值，或者点击旁边的小圈，然后点击Truncate data。
1、导出整个工程学文件，点击file下save project as即可。
2、保存作图数据。
看完这个数据处理后会有什么问题呢？
1、为什么要能量校准？
2、为什么要归一化？
3、怎么样得到配位数？
4、……？