相差校正扫描透射电子显微镜
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像差校正扫描透射电子显微镜（STEM）：技术突破与多材料原子级表征应用
在纳米科学时代，材料的宏观性能越来越依赖于原子尺度的成分细节与结构排布。像差校正技术的问世，使扫描透射电子显微镜（STEM）的空间分辨率迈入亚埃级（sub-Å），结合 Z 衬度成像…
在纳米科学时代，材料的宏观性能越来越依赖于原子尺度的成分细节与结构排布。像差校正技术的问世，使扫描透射电子显微镜（STEM）的空间分辨率迈入亚埃级（sub-Å），结合 Z 衬度成像…
