首页
计算干货
视频课程
VASP专题
计算培训
测试干货
顶刊解读
学术招聘
登录
注册
华算科技
首页
现代电子显微学难题
现代电子显微学难题
TEM
现代电子显微学待解难题梳理:从衬度差异到结构反推
总结:本文介绍了现代电子显微学领域虽在分辨率提升(如球差校正技术实现亚埃级分辨率)方面取得显著进展,但仍存在的一系列尚未解决的核心问题,包括理论图像模拟与实验显微像衬度差异大、电子…
测试表征—华算科技
22小时前
0
0
5