样品制备
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材料科学TEM 样品制备难？一文掌握5大核心方法（离子减薄/电解抛光/FIB）与实操要点
总结：本文详细介绍了材料科学领域透射电子显微镜（TEM）样品的制备技术体系，明确了TEM样品需满足的7项基本要求，系统阐述了5大核心制备方法——TEM样品载网法、离子减薄、电解抛光…
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FIB与TEM技术强强联合——解锁材料/地质科研纳米级分析新可能
总结：本文详细介绍了聚焦离子束（FIB）与透射电镜（TEM）结合的技术体系，包括TEM的核心分析能力、FIB技术的发展简史与基本原理，重点阐述了FIB在TEM样品制备中的关键作用，…
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电镜技术在陶瓷晶界表征上的应用：理论知识解析、样品制备和数据分析要点
总结：本文详细介绍了透射电镜（TEM）、扫描透射电镜（S/TEM）及相关衍生技术（如EDS、EELS、PEND、4D-STEM等）在陶瓷晶界与异质界面表征中的应用，包括不同成像模式…
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半导体工业TEM样品制备技术：方法演变、FIB应用与损伤控制
总结：在本文中，读者可系统学习到半导体TEM样品（横截面 / 平面）的针对性制备步骤、FIB技术在特定区域样品制备中的要点，掌握FIB损伤层控制与样品转移的关键技巧，了解不同制备方…
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扫描电镜（SEM）操作指南：如何获得高质量的SEM图片
总结：本文围绕 “如何获得高质量SEM图片” 展开，详细介绍了SEM高质量图片的8大评价标准，并从样品制备、仪器参数调整、常见成像假象解决三大核心维度，结合具体案例与图表提供实操方…
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如何制备同步辐射XAFS测试样品？
说明：本文详细介绍了XAFS样品制备的核心要点：强调样品需均匀且无杂质，推荐压片法（粉末+粘合剂混合压制）。 同时重点推荐了XAFSmass程序，用于精确计算粉末量以实现最佳吸收率…
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同步辐射（XAFS）技术解读：样品制备方法！
同步辐射XAFS样品制备X射线吸收精细结构 (XAFS) 光谱法，也称为X射线吸收光谱法，是一种可应用于多种学科的技术，因为它可以对固体、气体或液体进行测量，包括湿润或干燥的土壤、…
