电子态探测

• 测试表征

  XAS 技术在过渡金属酞菁与金属基底界面电荷转移研究中的核心应用

  一、研究背景与 XAS 技术适配性 过渡金属酞菁（TMPcs，TM=Mn、Fe、Co）作为典型的平面 π- 共轭有机半导体材料，凭借独特的光学、电子及磁学性质，在发光二极管、场效应…

  测试表征—华算科技

  4天前

  0012