X 射线衍射

说明：本文华算科技主要介绍如何用 X 射线衍射（XRD）判断样品里有没有杂相，包括衍射图谱如何指认物相、标准卡片比对方法、定量物相分析给出的相含量，以及合成与热处理过程中杂相的出现…

说明：本文华算科技介绍了掺杂的定义、核心特征及与混合、包覆等概念的边界，重点讲解了成分分布表征和结构表征技术，如电感耦合等离子体发射光谱、X射线光电子能谱、能量色散X射线光谱、二次…