费米能级:从基本概念到DFT、XPS、Mott-Schottky等现代测定技术

说明:文章中华算科技系统梳理了费米能级的定义、公式与不同材料费米能级的差异,并列举了DFT、XPS-UPS、Mott-Schottky及低温比热等费米能级计算与测量方法

 

费米能级:从基本概念到DFT、XPS、Mott-Schottky等现代测定技术

什么是费米能级?

费米能级:从基本概念到DFT、XPS、Mott-Schottky等现代测定技术
本质与定义

 

费米能级Fermi LevelEF是理解半导体物理和电子器件工作原理的核心概念。简单来说,费米能级是绝对零度时电子所能占据的最高能级它本质上描述了电子在材料中的填充水平。

在绝对零度(0K)时,所有能量低于EF的能级都会被电子填满,所有高于EF的能级则完全空着,没有电子EF是一个“界限”。

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当温度高于0K时,部分电子会吸收能量跃迁至EF以上的能级,同时EF以下会留下空穴,但EF本身仍作为电子填充概率为50%的能量点。

 

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不同材料中的费米能级

 

费米能级决定了材料的导电能力,根据导电能力的强弱,通常我们可将材料分为以下三类:

(1)导体(如金属):费米能级位于导带内部。这意味着即使在低温下,也有大量电子处于可以自由移动的导带中,因此导电性极好。

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(2)半导体(如硅、锗):费米能级位于禁带(导带与价带之间的能量间隙)中间。纯半导体(本征半导体)的费米能级几乎在禁带正中央掺杂后(如np型半导体),费米能级会分别向导带或价带偏移,从而改变其导电能力。

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(3)绝缘体:费米能级同样位于禁带中,但禁带宽度远大于半导体(通常大于 5eV)。这使得常温下几乎没有电子能跃过禁带到达导带,因此材料几乎不导电。

 

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费米能级的应用

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 p-n结

 

p-n是二极管、晶体管的基础。p型半导体的费米能级靠近价带,n型半导体的费米能级靠近导带;当两者接触时,电子会从n型向p型扩散,最终使整个结的费米能级对齐

这个过程中,界面处会形成 内建电场,阻止电子继续扩散——这就是二极管单向导电的核心原理。

 

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DOI: 10.1021/acsnano.7b03880

金属-半导体材料设计

 

若金属费米能级高于半导体导带底,电子会从金属注入半导体导带,形成“欧姆接触”。这类材料通常具有低电阻的特性,适用于器件电极。

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DOI: 10.1021/acsenergylett.1c00150

若金属费米能级低于半导体导带底,界面会形成“势垒”,电子难以通过,即“肖特基接触”。势垒带来的“单向导电性”使得这类材料可用于制作肖特基二极管。

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DOI: 10.1021/acsenergylett.1c00150

 

热电材料设计

热电材料能实现热能电能转换,其效率与载流子浓度直接相关。通过掺杂,可调整费米能级位置,使材料的载流子浓度处于最优区间。这既保证载流子数量足够,又减少载流子之间的散射,从而提升热电转换效率。

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DOI: 10.1016/j.ssc.2023.115261

 

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费米能级调控

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费米能级的调控是实现材料电学性能定制化、器件功能优化的关键手段,可通过掺杂、电场、异质结构建应力应变等多种方式实现

1. 掺杂

 

n型掺杂

 

掺入施主杂质,提供额外的自由电子,使费米能级向导带方向上移。掺杂浓度越高,费米能级越靠近导带底。

 

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DOI: 10.1021/acs.chemmater.6b04479

p型掺杂

 

掺入受主杂质,产生大量空穴,使费米能级向价带方向下移。掺杂浓度越高,费米能级越靠近价带顶。

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DOI: 10.1039/c5ra25572d

 

2. 电场调控

 

此方法通过外加电场改变材料内部的电势分布,进而调控费米能级的位置典型应用主要为场效应晶体管

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DOI: 10.1088/2399-1984/aafc3a

 

3. 异质结构建

 

当两种不同材料形成异质结时,它们接触界面处的能带会发生弯曲,两种材料的费米能级在界面处对齐,从而形成内建电场

此外,在材料表面吸附原子或分子时,表面与原子或分子之间的电荷转移也会改变表面的费米能级。

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DOI: 10.1007/s10853-025-10936-0

 

4. 应力应变

 

通过施加压力或引入应变,可以改变材料的晶格结构以及原子间相互作用,进而调控能带结构和费米能级

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DOI: 10.1103/PhysRevB.102.035132

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费米能级的计算与表征

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 理论计算

 

理论计算的核心是根据材料的电子结构模型,推导费米能级的能量值。

 

1. 金属体系:自由电子气模型

 

该模型的核心原理将金属中的价电子视为自由电子,忽略电子电子、电子离子的相互作用,通过统计力学(费米狄拉克分布)计算电子的能量分布。先确定单位体积内的价电子数,通过自由电子费米能公式,直接得到EF

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其中:
h为约化普朗克常数,
m为电子质量,
N/V为电子数密度。

2. 半导体体系:能带理论与载流子统计

 

半导体的费米能级与掺杂类型(n型/p型)、载流子浓度直接相关,需结合能带结构计算。对于本征半导体,其费米能级近似位于禁带中央,使用以下公式进行计算:

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其中:
Ec为导带底能量,
Ev为价带顶能量,
mh*、me*为空穴/电子有效质量,
kT为热激发能

常温下第二项可忽略,直接取禁带中点。

对于掺杂半导体,需引入施主/受主能级,通过载流子浓度公式进行反推:

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其中:
Nc为导带有效态密度,
nd为施主载流子浓度。

3. 复杂体系:密度泛函理论

 

随着体系变得更加复杂,普通的简化假设模型已不能满足简化假设要求,主流密度泛函理论(DFT)计算可通过量子力学计算材料的电子云密度,再反推电子的能量分布和费米能级。

这一方法能考虑电子电子、电子离子的相互作用,使复杂体系的能级精度大大提升。

 

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DOI: 10.1038/s41598-019-45071-9

实验测量

 

 

实验表征的核心是通过仪器探测电子的能量状态,间接或直接确定费米能级的能量值,常用方法有3

 

1. 光电子能谱

 

常用测试方法X射线光电子能谱(XPS紫外光电子能谱(UPS。其原理是光电效应”,当用单色光照射材料,激发电子逸出,通过测量逸出电子的动能,可以反推其结合能,进而确定费米能级。

 

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DOI: 10.1021/acs.jpcc.1c06862

 

2. 电化学方法

 

其核心是Mott-Schottky测试,通过测量半导体与电解质界面的电容,可以推导费米能级与导带/价带的相对位置。具体来说,首先绘制1/C2
曲线,得到曲线的截距对应平带电压,结合电解质的氧化还原电势,可反推半导体的费米能级

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DOI: 10.1016/j.electacta.2018.10.166

 

3. 低温比热测量

 

由于金属的低温比热由电子贡献和晶格贡献组成,其中电子贡献与费米能级处的电子态密度成正比,因此通过测量比热可间接推导费米能级。

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DOI: 10.1016/j.jallcom.2020.156015

 

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