d带中心变低,为什么吸附反而可能增强?

说明:本文华算科技主要介绍 d 带中心降低时吸附仍可能增强的电子结构原因,以及谱形、泡利排斥和吸附位点改变所产生的不同情形。

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d带中心变低,为什么吸附反而可能增强?

d 带中心和吸附能分别怎样定义?

金属原子的五个 d 轨道与周围原子相互作用,形成分布在一段能量范围内的电子态。DFT 得到电子能级和波函数后,可将电子态投影到指定原子的 d 轨道,构造 d 态投影态密度 ρd(E)。d 带中心 εd 是这组投影态的能量加权平均,它的数值来自整段谱重,峰顶位置只涉及局部能区。

采用相对费米能级的能量 E−EF,定义式写为 εd=∫(E−EF)ρd(E)dE/∫ρd(E)dE。投影原子、积分区间和自旋处理相同时,数值变得更负才表示同一统计量向低能移动。只积分占据态与积分完整 d 带会得到不同数值,两个口径之间的差异也可能大于材料改性引起的位移。

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图1. Cu、Pd3Cu 与 Ag3Cu 的体相 d 态密度,以及局域 d 态金属间化合物的筛选流程。DOI:10.1039/d2sc05772g

Cu、Pd3Cu 和 Ag3Cu 的体相谱中,Cu 的 d 态宽度明显不同;橙色与灰色分别属于 Cu 和另一种金属。窄峰、低能重心和费米能级附近谱重可以独立变化。这些体相谱用于说明电子态分布;吸附发生在表面,参与成键的原子应另取表面位点的局域投影。

吸附能则来自三个体系的总能差:Eads=E表面+吸附物−E洁净表面−E孤立吸附物。采用这个符号约定,在吸附物与参考态相同的比较中,Eads 更负表示吸附更放热。总能差包含成键、电子重排和结构弛豫,计算来源与洁净表面的谱重心不同。

对一组相近的晚过渡金属表面,若带形、d 态填充、吸附构型及轨道耦合变化较小,中心升高常伴随金属—吸附物反键态占据减少,吸附随之增强。中心降低与吸附减弱的常见联系带有这些比较前提;合金化或配位改变往往也改变其中数项。

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平均能量降低时,成键电子态会怎样变化?

同一个 εd 可以对应宽带、窄峰或多组分裂峰。假设配位改变使若干低能 d 态获得更多谱重,总重心会下降;朝向吸附物的某个 d 轨道却可能仍接近其前线轨道。总 d 态平均值会掩盖不同轨道的相反位移,尤其在配位场分裂明显的单原子位点和低对称表面。

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图2. 单原子与 Ir–Ti 双原子合金的能级耦合示意、d 态密度和实空间轨道。DOI:10.1039/d2sc03650a

Cu 宿主中的孤立 Ir 与 Ti 形成相邻原子对后,原有窄 d 态会展宽并产生新的金属间成键、反键分量。Ir–Ti 成键态与 Ir–CO 成键态属于不同原子对:前者的低能移动不能自动解释后者增强。这一实例中,Ir 顶位 CO 吸附实际减弱,正好限定了这张轨道图所支持的判断范围。

局域 d 态金属间化合物的 CO 顶位吸附能在同一元素类别内仍有分布。横向类别是 Rh、Ir、Pd、Pt、Cu,灰线为相应纯金属表面的平均值,这张散点图的横轴并非 εd。它显示不同组成和晶面具有不同吸附能;具体反常位点的解释仍应对应其表面轨道谱与总能差。

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图3. 局域 d 态金属间化合物的 CO 顶位吸附能分布,以及相应纯金属表面的平均吸附能。DOI:10.1039/d2sc05772g

吸附物轨道与金属轨道的混合由能级间距、空间重叠和耦合矩阵元 V 共同控制。对能级相隔较远的简化双能级模型,杂化造成的能级移动量级为 |V|2/|εa−εd|。中心位移只涉及分母中的部分信息;键长、键角和轨道朝向改变 V 后,稳定化能量可以沿另一方向变化。接近简并或强耦合时,这个微扰表达式失效。

CO 的 5σ 轨道向金属给电子,金属占据态也可向 CO 的 2π* 轨道反馈电子。两类相互作用选择的金属轨道不同。CO 内部的反键轨道与金属—CO 反键态必须区分,前者占据增加会削弱 C–O 键,金属—CO 吸附键的能量还包含给电子、反馈和排斥贡献。

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泡利排斥减弱为何能使吸附增强?

吸附物接近表面时,已占据电子态之间除了发生杂化,还必须满足波函数的正交要求。正交化带来正的能量代价,通常归入泡利排斥。吸附能包含负的杂化稳定化与正的排斥代价;若排斥下降的幅度超过吸引作用减弱的幅度,净吸附能仍会降低。

CO 化学吸附模型将能量写为 ΔEchemi=Ehyb+Eortho,分别对应杂化与正交化贡献。在这组模型中,固定中心而减小带宽会提高正交化代价;固定带宽而升高中心则有利于吸附。若实际材料的中心与带宽一起改变,沿单一坐标得到的趋势便无法直接描述其总能变化。

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图4. 不同 d 带中心与带宽下,CO 化学吸附模型的正交化排斥能和杂化能分布。DOI:10.1039/d2sc05772g

该模型为“下移仍可能增强”给出了一个有条件的解释:中心降低带来的不利能量变化,可以由带宽或轨道重叠改变产生的排斥降低补偿。图中的色块是 Eortho,黑色等高线是 Ehyb;每个金属面板采用自己的数值范围,颜色深浅不宜跨面板比较。

OH、F、Cl 等接近满占据价层的吸附物,与接近满 d 带的金属接触时,排斥贡献会显著影响吸附。在 1/4 单层覆盖度的 Pt、Pd 表皮合金计算中,O 在 fcc 三重空心位上的吸附仍符合常见趋势,OH 的顶位吸附却随中心降低而增强,且金属—OH 距离更长。较小的占据态重叠削弱排斥,吸附更放热;键长缩短与吸附增强在这组体系中没有同步发生。

上述带宽—排斥关系来自 CO 与选定金属位点的化学吸附模型,OH 在近满 d 带合金上的占据态相互作用又有自己的轨道结构。把吸附后 PDOS 的两个重叠峰直接当作排斥减小的证据缺少能量依据;模型能量分解或轨道分析应明确对应哪一组占据态。

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换了吸附位点,中心位移还能怎样比较?

双原子位点允许 CO 同时与两个金属原子成键,桥位的吸附能可能低于任何单原子顶位。即使某个金属的中心略微降低,新增的第二个金属—CO 相互作用仍可能使整个吸附构型获得更大的稳定化。此时参与吸附的原子集合已经改变,单个原子的 εd 只记录部分电子结构。

Cr–Pd/Ag、Ti–Pd/Ag 和 Ti–Pd/Au 的计算比较了孤立原子顶位、双原子顶位与双原子桥位。若顶位吸附能变化很小,桥位却明显增强,增强来源主要对应新构型的成键组合。这类数据与“保持同一个顶位后中心下移仍增强”属于两种比较,图注和机制解释应保留各自的吸附对象。

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图5. 单原子与双原子合金的 CO 顶位、桥位构型,吸附能比较及 d 带中心位移。DOI:10.1039/d2sc03650a

同一张组合图还比较了顶位吸附能差和中心位移,其中数据大体符合中心上移、吸附增强的常见趋势。桥位柱状图不能替顶位散点图充当反常趋势的证据。对表面重构或缺陷位点,也应比较相同配位构型与充分弛豫构型的吸附能,分辨电子态变化与新增成键带来的能量收益。

强吸附本身可形成低能成键态,使吸附后的金属 d 谱重心下降。用吸附后的低中心解释吸附前的强吸附倾向,会混淆原因与响应。比较洁净位点的描述符时,应使用对应的吸附前结构;分析吸附诱导重排时,则需明确给出吸附前后两组谱。

若两种材料各自把 EF 设为零,中心相对零点降低还可能包含电子化学势的移动。统一真空能级或局域静电势参照后,才可分辨 d 态本身的移动。同一吸附物、同一电荷态和相同能量参照下的 Eads 差值对应放热程度;溶液中的电位、溶剂与覆盖度另会改变吸附自由能,反应速率则涉及相应的过渡态能垒。

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