形貌表征
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搞懂TEM明场/暗场像,轻松解析材料微观结构!
在透射电子显微镜(TEM)分析中,形貌图是观察材料微观结构(晶体形貌、缺陷分析、相分布情况等)的核心手段。TEM形貌成像的本质是利用电子束穿过样品后,因样品不同区域的厚度、原子序数…
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一文读懂FIB:从离子束原理到TEM制样,解锁纳米加工的万能钥匙
聚焦离子束(Focused Ion Beam,FIB)加工是一种基于高能离子束与物质相互作用的精密微纳加工技术,通过将离子束聚焦为纳米级束斑,利用离子束轰击样品表面,实现材料的刻蚀…
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纳米材料研究必备!TEM 观察粉末样品的两大核心方法及实用技巧
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,TEM)观察粉末样品是纳米材料研究的重要手段之一。本文介绍了TEM观察粉末样品的两种方法、常用的粉…
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原位TEM:顶刊案例分享
原位透射电子显微镜(In-situ TEM)技术通过在透射电镜中集成特殊样品台或反应池,使研究人员能在实时、动态条件下观察材料在外界刺激(如加热、拉伸、电场等)下的结构演变,已成为…
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孪晶及其衍射斑
孪晶及其衍射斑 对铜或镁合金有了解的朋友们想必对下面图片里的这种形貌并不陌生: 图片中展示的是很典型的孪晶形貌。所谓孪晶,是指两个晶体(或一个晶体的两部分)沿一个公…
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如何利用TEM分析拉伸孪晶和压缩孪晶
了解更多TEM小知识 ● 点击蓝字关注我们 孪生变形 与立方晶格结构金属以位错滑移机制实现塑性变形不同,密排六方的晶格结构需要耦合多种变形机制才能实现任意方向上的塑性变形; 由于…
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如何利用TEM快速判断位错类型
在透射电子显微镜(TEM)观察过程中,我们常常看能观察到大量位错线(图1),但如何准确区分其类型(刃型位错、螺型位错和混合位错)呢?本文将从分析原理、拍摄参数(g矢量)的选择与位错…
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TEM明场像和暗场像分析技术介绍
TEM明场像和暗场像分析技术介绍 研究晶体内部缺陷及界面结构用透射电子显微镜(TEM)的电子衍射。电子衍射根据衍射衬度(衬度:即不同区域的亮暗差别)成像,由衍射衬度原理形成的电子图…
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TEM分析技术的特点及独特优势
-专-业- -稳-定- -高-效- —— 简介 —— 透射电子显微镜(简称透射电镜,TEM)是一种高分辨力、高放大倍数的显微镜,它用聚焦电子束作为照明光源,使用对电…
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TEM基础知识详解
一、材料做TEM检测时微观结构都关注哪些? 一般材料在做TEM检测时关注:各种元素、各种相、各种晶体缺陷的种类和含量等,特别是晶体缺陷。这些体现在微观结构:各个相晶粒的尺寸、形状分…