说明:本文华算科技主要介绍 CV、LSV、Tafel、EIS、i–t、计时电位、恒流充放电和 Mott–Schottky 八类曲线的激励方式与理想形状,以及翘尾、拐点、感抗弧、弯曲、突跳和电位骤升等形状对应的电阻、传质、表面物种、析气和电极失活过程。


电化学曲线为何会偏离理想模型?
电化学工作站给电极施加受控激励并记录响应,八类曲线的差别从激励方式开始。
CV让电位在两个端点之间往返线性扫描并记录电流,LSV只做单向扫描;把极化曲线的电流取对数后对过电位作图,得到的就是Tafel 图。
i–t(计时电流)在电位阶跃后记录电流随时间的变化,计时电位(CP,E–t)固定电流、记录电位,恒流充放电(GCD)在正负电流之间切换并记录电压。EIS 与 Mott–Schottky 都施加毫伏级交流小信号,前者在一个直流电位上扫描频率,后者在一组直流电位上用固定频率测电容,再以 C−2 对电位作图。

这些曲线的理想形状来自几种最简单的界面模型。界面只有双电层充放电时可看作电容 C:线性扫描给出 i = C·v,CV 呈矩形;恒电流下 dU/dt = I/C,GCD 呈对称三角形;Nyquist 图低频段接近竖直线。
界面只发生单步电荷转移、反应物供应充足且过电位足够大时,过电位 η 与 lg j 成直线,斜率b = 2.303RT/(αnF),25 °C、α = 0.5、n = 1 时约为 118 mV dec−1。
反应受扩散控制时,电位阶跃后的电流按 t−1/2 衰减(Cottrell 关系),恒电流下表面浓度降到零需要一段确定的过渡时间(Sand 关系),旋转圆盘上的 LSV 则停在由转速决定的极限电流平台上。
半导体电极只有空间电荷层电容时,C−2 对电位作图为一条直线。

这几种模型共同依赖三个前提:串联电阻可以忽略、反应物供应充足、界面上只发生模型设定的那个过程。
在 1.0 M Li2SO4 水系对称超级电容器中,电压窗口从 1.0 V 逐级扩大到 2.0 V,100 mV s−1 的 CV 仍保持近似矩形的轮廓;在各窗口端点恒压保持时,残余电流却从 1.2 V 的 2.6 mA g−1 升到 2.0 V 的 64 mA g−1,这一电流来自水分解。
同一器件的阻抗谱在 1.4 V 及以上时,低频段由近竖直线弯成圆弧;2.0 V 下浮充 120 min 后电容衰减到接近零,1.2 V 下仍保留约 96%。
同一个水分解反应在不同曲线上的形态差别很大:扫描曲线上只是端点电流略微上翘,恒压电流里是一个不衰减的平台,阻抗谱里是低频圆弧,长时间充放电里则表现为库仑效率和电容的下降。
曲线偏离理想形状,对应某个前提不再成立:串联电阻和传质限制主要在大电流处显现,表面覆盖度和电极自身价态随电位可逆变化,析气、溶剂分解和电极失活则带来不可逆或随机的界面改变。


欧姆压降与扩散限制如何改变波形?
串联电阻可以忽略这一前提在大电流下最先失效。
工作电极与参比电极之间的溶液、隔膜和接触电阻构成未补偿电阻 Ru,电流 i 流过时产生 iRu 压降,仪器记录的电位与界面实际电位相差这一项。
电流越大,iRu 越大,大电流区的曲线最先偏离动力学模型。传质限制也在大电流处出现:电极表面反应物浓度低于本体浓度后,同样的电流要靠更大的过电位维持。
Tafel 高电流段向上弯,LSV 出现拐点
动力学控制下 η 只随 lg j 线性增加,iRu 却随 j 线性增加,在对数坐标中表现为一个越来越陡的附加项,Tafel 线因此在高电流端向上弯、表观斜率随电流增大。
电流接近极限扩散电流 jL 时,表面浓度趋近于零,过电位迅速增大,曲线弯得更厉害。Koutecký–Levich 关系把动力学电流与极限扩散电流写成 1/j = 1/jk + 1/jL,由此扣除传质贡献,得到动力学电流 jk 后再作 Tafel 图。
传质限制在线性坐标的 LSV 上表现为 S 形。旋转圆盘上的氧还原电流先随过电位近似指数增长,过渡到动力学与传质混合控制后增速放缓,最后停在极限电流平台上,平台高度 jL 与转速的平方根成正比(Levich 关系)。
拐点出现在半波电位附近,即动力学电流与传质电流大小相当的位置;平台高度不随 ω1/2 线性增加时,电流已不只受溶液扩散控制,催化层内部的传质或副反应也在贡献电流。
计时电位曲线的电位跃升对应哪个时刻?
电流固定时,传质限制表现为时间上的转折:电极反应持续消耗表面反应物,表面浓度降到零的时刻称为过渡时间 τ。
纯扩散条件下 Sand 关系为 iτ1/2 = nFAC(πD)1/2/2,τ 随本体浓度的平方增大、随电流的平方减小。到达 τ 后原反应无法再承担所加电流,电极电位迅速移向下一个能够承接电流的反应。

用银电极测氯离子时,Ag + Cl− → AgCl + e−消耗电极表面的 Cl−。在 50 mM NaCl、240 A m−2 下,通电瞬间的电位跳升来自溶液欧姆压降,随后电位缓慢上升,1.14 s 时表面 Cl− 耗尽,电位陡升并出现拐点,电极转向其他法拉第反应。
欧姆跳升出现在 t = 0,浓度耗尽跃升出现在 τ;NaCl 浓度从 25 mM 增至 75 mM,τ 从 0.21 s 延长到 4.23 s,增幅约 20 倍,大于纯扩散估计的 9 倍,原因之一是该体系的 Sand 关系还含有随浓度变化的 Cl− 迁移数项。
恒流充放电换向处的电压突降从哪里来?
计时电位起点的欧姆跳升,在恒流充放电中出现在每次电流换向时。
GCD 的电流在充电终点由 +I 切换为 −I,电流变化量为 2I,等效串联电阻 RESR 上的压降随之瞬间改变 2IRESR,曲线顶点出现一段竖直下降。
由这段压降求电阻的关系为RESR = ΔU/(2I)。直接用 ΔU/I 计算,得到的电阻是真实值的两倍。

对一只 200 F 商用超级电容器,1、1.5、2 A 下的换向压降分别为 50、75、100 mV,对应电流变化 2、3、4 A,ΔU/ΔI 均为 25 mΩ,与阻抗谱高频截距给出的 22 mΩ 接近。
压降随电流线性增大,符合欧姆电阻的特征;放电支线偏离直线则另有来源,赝电容或电池型反应使 dU/dt 随电位变化,三角形随之变成带弯折或平台的形状。


表面可逆演变为何引发曲线畸变?
扣除电阻和传质之后仍然存在的偏离,来自界面组成随电位的可逆变化,动力学模型中视为常数的位点数和吸附能随之改变。吸附物种覆盖度和金属离子价态随电位变化,相应的电流叠加在目标反应上。
没有传质限制时,Tafel 斜率为什么仍会改变?
单一 Tafel 斜率的前提,是表面活性位点的数目和吸附能在所测电位区间内不变。铂上的氧还原不满足这一点:在 ORR 动力学区所在的高电位范围,铂表面逐渐生成 OH、O 等含氧物种,这一过程称为氧欠电位沉积(O-upd)。
这些物种既占据位点,又通过电子效应改变 ORR 中间体的吸附。

含氧物种的覆盖度同时随电位和扫速变化,多晶铂的表观 Tafel 曲线因此弯曲,斜率在 60–120 mV dec−1 之间变化。
扫速越慢,表面在高电位停留越久、含氧物种积累越多,0.9 V(vs RHE)处测得的 ORR 活性越低,20 与 50 mV s−1 之间相差约 20%,在可测扫速范围内相差两倍以上;1 mV s−1 的表观稳态曲线对应覆盖大量含氧物种的表面。
LSV 析氧前的鼓包来自哪种电流?
镍基催化剂中发生变化的是金属离子自身的价态。
镍基氢氧化物在析氧之前先发生Ni2+/Ni3+ 氧化,LSV 上叠加出一个氧化峰,这部分电荷用于改变催化剂自身的价态和结构,并不生成 O2。
在 0.1 M KOH 中,NiFe LDH 的 Ni(II) 氧化峰位于 1.47 V(vs RHE),与析氧起始电位重叠;CoFe LDH 的主氧化峰在 1.35 V,早于析氧。

微分电化学质谱同步记录 m/z = 32 的 O2 信号,能把两类电流分开:CoFe LDH 的氧化峰处没有对应的 O2 信号,O2 只在更高电位随电流陡增一起出现。
不借助质谱时,回扫支也能提供参照:NiFe LDH 在回扫 1.35 V 处出现还原峰,自身氧化还原成对出现,析氧电流在回扫中没有对应的还原峰。
EIS 低频感抗弧对应哪类弛豫过程?
价态和覆盖度的变化都需要时间完成,在交流测量中表现为弛豫。感抗弧出现在 Nyquist 图实轴下方,虚部符号与容抗弧相反。
电极反应经由吸附中间体进行时,中间体覆盖度跟随交流电位变化需要一段弛豫时间;覆盖度滞后使低频下的反应电流响应增强,阻抗呈现电感型相位,低频端的总阻抗随之降到电荷转移电阻以下。
AZ91 镁合金熔覆层在 3.5 wt% NaCl 中的阻抗谱高频为大容抗弧、低频为感抗弧,作者认为它来自阳极反应中吸附在表面的 Mg+、Mg(OH)+ 等中间产物,并指出低频感抗弧的成因仍有争议。

感抗弧随表面状态出现或消失。铁旋转圆盘电极在 pH 4 的除氧 0.1 M Na2SO4 中开路时,低频端出现感抗弧,归因于 [FeOH]ads 等吸附中间体;以 0.1 mA 阳极恒流极化 1800 s 后,该感抗弧消失。
高频端落到实轴下方的尾线则多来自导线和测试回路的寄生电感。
Mott–Schottky 曲线出现平台和回滞
半导体电极上,表面物种和表面态会改变 Mott–Schottky 曲线。该分析假设测得的电容主要来自空间电荷层,C−2 与电位成直线,外推截距给出平带电位 Efb,斜率给出载流子浓度。
表面态充放电、Helmholtz 层电容不可忽略或电极表面粗糙时,测得电容随频率改变,直线随之弯曲或出现平台。不同频率外推得到的 Efb 因此彼此不一致。
Nb 掺杂 SrTiO3 单晶光阳极给出另一种偏离。暗态下,其 Mott–Schottky 曲线随 pH 升高整体负移、斜率基本不变;在 pH 约 5–10 的近中性无缓冲电解液中光照,起始电位附近出现正扫与回扫不重合的回滞,加入 5–10 mM 磷酸盐缓冲后回滞显著减弱。
作者把这一回滞归于光电化学反应改变表面局部 pH,使能带边位置在反应中移动。


析气与失活如何破坏曲线稳定性?
表面覆盖度随电位的变化在撤去扰动后可以复原,析气和电极失活带来的则是不可逆或随机的界面改变:溶剂分解生成的气体离开体系,气泡在电极表面成核、长大和脱离,催化剂表面发生氧化或结构破坏。
这些事件直接改变参与反应的面积和物种。曲线上对应端点上翘、电流跳变和电位持续上升。
CV 窗口两端的翘尾
理想双电层电容的 CV 在任何扫速下都保持矩形,电容电流 i = Cv 与扫速成正比;端点附近电流上翘,常作为水分解等副反应开始发生的标志。
副反应的法拉第电流主要取决于电位,几乎不随扫速变化。扫速降低时,电容电流按比例减小,翘尾在总电流中的占比随之放大。

在前述 1.0 M Li2SO4 器件中,扫速从 10 mV s−1 降到 0.1 mV s−1,曲线保持近矩形的表观电容窗口从约 1.6 V 缩小到约 1.2 V,与恒压残余电流给出的 1.2 V 上限一致。
由 RESR 造成的端点圆角在换向后按 RC 时间常数很快回到矩形;翘尾则表现为端点前电流持续增大,回扫后电流要经过一段电位才改变符号。
i–t 曲线上的突跳和锯齿来自哪里?
水分解在恒电位下持续产生气体,气泡带来另一类形状。气泡在电极表面成核长大,覆盖活性面积、阻挡离子输运,在光电极上还会散射入射光,电流逐渐下降。气泡脱离时,遮挡的面积重新暴露,电流随之跳回。
“缓降—突升”重复出现,i–t 曲线就呈锯齿状,锯齿周期与气泡长大到脱离尺寸所需的时间相当。

无覆盖层的 Sb2Se3 光阴极在 0 V(vs RHE)、一个太阳光照下工作,光电流约 16 mA cm−2,并伴随不规则起伏。
覆盖 400 μm 冷冻凝胶后,气泡先被截留在孔道中长大,光电流在最初 0.1 h 内从 16 降到 7 mA cm−2,气泡逸出时迅速回升到 11 mA cm−2,此后变为幅度较小、周期规则的波动。
随气泡逸出可以回升的下降来自面积和光路的暂时遮挡。约 30 h 之后不再随气泡回升的持续衰减,则与器件表面结构的逐渐变化有关。
恒电流电解中的电位骤升
恒电流稳定性测试中,电位在短时间内大幅升高,形状与 Sand 过渡时间处的跃升相近,来源却是电极表面的化学变化。
石墨阳极在 2 M 醋酸钠与 2 M 醋酸缓冲液中以 0.15 A cm−2 电解乙酸根,初期甲醇与乙酸甲酯两种非 Kolbe 产物的总法拉第效率接近 100%。
约 2 h 后,电位从约 2.5 V 迅速升到约 5 V(vs RHE)。甲醇和乙酸甲酯的法拉第效率随之下降。

失活后石墨的C 1s 谱中含氧组分增多,同一电流密度所需电位显著升高,原位阻抗谱的高频区出现并逐渐增大一个新的感抗弧,这一新弧对应表面生成的介电性氧化层,它阻碍电子转移。
这一跃升伴随表面化学组成的不可逆改变,与 τ 随浓度和电流按 Sand 关系变化的过渡时间跃升不同,它对应的是氧化损伤封闭的活性位点。
