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终于有人说清楚“X光小角散射”(SAXS)!

 

 

为什么我们要用 SAXS来看高分子

先聊一个问题:高分子材料到底难在哪里?

高分子不同于金属或晶体材料,它们结构无序尺度跨度大,往往同时包含从纳米到微米多个尺度的结构特征:

终于有人说清楚“X光小角散射”(SAXS)!

  • 分子链的缠绕方式、结晶区和非晶区的分布;

  • 相分离结构(如嵌段共聚物);

  • 纳米填料的分散状态;

  • 样品内部是否存在空洞、聚集等“缺陷”。

相比之下

光学显微镜“太粗”,分辨率上限约为 200 nm(受限于光的波长),对高分子材料中微观结构几乎无能为力。

电子显微镜“太局部”虽然分辨率可以达到纳米甚至亚纳米级,在成像清晰度上非常强大。但它是表面或超薄切片成像,只能看到材料的局部、二维结构。

SAXS则恰到好处地覆盖看不见但又极其重要的结构层级, 不靠成像,而是基于X光散射:它看到的是材料内部纳米尺度结构的“统计平均轮廓”。

 是少数几种能在“纳米尺度”上“无损穿透”材料,获取其真实内部结构统计信息的工具。


02

X光、小角度、散射分别是什么意思?

(1)什么是 X 光?

X光是一种波长在 0.01–10 纳米之间的电磁波,比可见光波长短得多,穿透能力强,也能与物质内部电子产生相互作用。

终于有人说清楚“X光小角散射”(SAXS)!

虽然X射线波长远小于纳米结构的尺寸,但可以通过分析范围内的散射行为推断样品中 1–100 nm 尺度的内部结构信息。

(2)为什么是“小角”散射?

我们知道,当光(或X射线)遇到物质中的不均匀结构(比如物质内部存在密度或电子分布的不连续性)时,会发生散射

如果结构尺度比较大,那么光的偏转角度很小。SAXS 就是专门“盯着这些小角度偏转”的散射信号,来捕捉样品内部微观不均匀性的。

小角度 ≈ 探测大结构
大角度(如 WAXS) ≈ 探测小结构(晶格、原子间距)

终于有人说清楚“X光小角散射”(SAXS)!

小角既不是我们“去控制”的角度,“小角”是样品散射出来的物理结果

我们设计整个系统,使它只能或者主要探测小角度范围的散射信号。

所有,SAXS 设备不强求你“控制角度”,但它专门优化来收集这类角度的散射信号。

(3)“散射”到底是什么意思?

X 光穿透样品时,会被样品中的电子“扰动”,一部分光线改变了方向,我们称为“散射”。

类比:就像水波撞到池塘中漂浮的不同大小的石头或叶子,会偏折、干涉、产生不同角度的水波。

这种散射的强弱、角度分布、位置等特征,就能告诉我们很多信息:

  • 如果材料内部结构排列得很有规律(比如晶体、层状结构),就会出现清晰的衍射峰

  • 如果是一些不规则分布的颗粒、相分离结构,图谱上会呈现出一条平滑衰减的散射曲线

  • 如果材料内部存在一些比较大的空洞或团聚区域,会让低角度区域(下文解释)的散射强度变强,这就像是“大个头”挡住了水波,引发了更明显的偏折。


03

整个测试过程是怎么样的?

 

你拿到一个高分子样品,比如一块 PEEK 聚合物,它里面可能有:

  • 晶区和非晶区(层状结构)

  • 纳米级别的空洞或填料

  • 相分离结构(比如嵌段共聚物)

这些结构的尺度大概在 1~100 nm,肉眼根本看不到,光学显微镜也无能为力。

终于有人说清楚“X光小角散射”(SAXS)!


 步骤一:X 射线照射样品

你打开 SAXS 仪器,把 X 射线(波长 λ 通常是 0.1~0.2 nm)打到样品上。

然后,高分子内部的电子会扰动 X 射线波——像水波撞到浮萍,X 射线发生了偏转,这就是散射


 步骤二:发生散射,角度大小反映“结构尺度”

如果样品中有 大的结构(比如空洞、相分离域),会让 X 射线散射角越小
如果是很小的结构(比如晶体内部原子间距),间距越小,衍射角通常会更大一些。。

所以我们引入一个参数:

终于有人说清楚“X光小角散射”(SAXS)!

   :散射矢量,单位通常是 nm−1

    反正你理解它为X 射线被散射之后方向改变的程度就好,这个公式怎么得出来,我就不在过多讲述了,感兴趣的朋友可以评论区留言。

  • 小角散射适合研究长尺度结构(1~100 nm)

  • 根据布拉格关系和上面的 q 值公式可知,越小的散射角,对应越大的空间尺度(即 d 值):

     

终于有人说清楚“X光小角散射”(SAXS)!

 散射角越小 →   表示 q 越小 →代表结构越

 散射角越大 →   表示  q 越大 → 结构越

如果 θ 更小,比如 0.1°,那 q 更小,L 就更大(几十~上百 nm)。


步骤三:探测器收集信号,得到 I(q)

仪器后面的探测器会收集各个角度的散射信号,得出:I(q),

也就是:不同 q(角度)下的散射强度 I

这是一条曲线,横轴是 q(结构尺度),纵轴是 I(强度)。
这张图,就是高分子“内部微观结构的投影”

通过对不同散射角度(对应不同 q 值)下的散射强度 I(q) 进行空间分布记录,就能在二维探测器上形成二维散射图(下图右)

终于有人说清楚“X光小角散射”(SAXS)!

如何看这张图?

1️⃣ 图像中心 = 直射光的位置

图像的最中心点对应的是X射线穿过样品的直线路径,那里通常亮度最高,是未发生散射的“直通光”位置。

2️⃣ 亮度 = 该方向的散射强度

二维图像上每个像素点的亮度,反映了该方向上散射光的强弱。亮的区域表示该方向散射强,暗的区域表示散射弱。

3️⃣ 圆圈 = 相同 q 值的等高线

  • q 值是散射向量大小,与结构尺寸 d 成反比:

    终于有人说清楚“X光小角散射”(SAXS)!

     

  • 所以:

    • 圆圈越靠中心 → q 越小 → 表示结构尺寸越大

    • 圆圈越外层 → q 越大 → 表示结构越小

4️⃣ 圆形对称性 → 表示样品结构各向同性

  • 如果图像是完美的同心圆:说明样品的结构在各个方向上都是一致的(各向同性)

  • 如果图像出现椭圆形、椭圆环或特定方向拉伸的条纹:说明样品内部结构在某一方向上有取向性,比如拉伸方向、结晶方向等


04

做完测试我们能得到什么信息?

我们可以从 I(q) 拟合出很多有意义的信息:

终于有人说清楚“X光小角散射”(SAXS)!


 

 

本文源自微信公众号:Polymer 侦探社

原文标题:《终于有人说清楚“X光小角散射”(SAXS)!》

原文链接:https://mp.weixin.qq.com/s/nWZFpGOaAX8oNm53OWlr7Q?search_click_id=994913835736678334-1757923729688-9461869426&click_id=19

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