位错

在透射电子显微镜（TEM）观察过程中，我们常常看能观察到大量位错线（图1），但如何准确区分其类型（刃型位错、螺型位错和混合位错）呢？本文将从分析原理、拍摄参数（g矢量）的选择与位错…

了解更多TEM小知识 ● 点击蓝字关注我们 LC锁的三个问题 1.LC锁是什么？2.TEM高分辨下长什么样？3.能说明什么问题？ 问题一：LC锁是什么？ LC锁是一种不动位错(se…

了解更多TEM小知识 ● 点击蓝字关注我们 ● TEM中判断位错类型的三个问题 1.TEM判定位错类型原理是什么？ 2.如何选择合适的g矢量？ 3.怎么结合TEM数据来判断？ 问题…

透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, TEM）是研究金属材料微观结构的核心工具之一，它凭借极高的分辨率（可达亚埃级别）和强大的综合分析…

总结：在本文中，读者可系统学习到利用TEM/HRTEM测量半导体器件关键尺寸（如栅极氧化物厚度、界面层厚度）、分析材料微观结构（如晶粒形态、相组成）的实操思路，掌握半导体失效模式（…