#晶体缺陷
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SEM与TEM区别解析
扫描电镜（SEM）与透射电镜（TEM）作为材料微观世界探索的两大支柱技术，均利用电子束成像，但原理与应用差异显著。深入理解其区别，有助于研究者精准选择工具，高效揭示物质微观奥秘。 …
扫描电镜（SEM）与透射电镜（TEM）作为材料微观世界探索的两大支柱技术，均利用电子束成像，但原理与应用差异显著。深入理解其区别，有助于研究者精准选择工具，高效揭示物质微观奥秘。 …
