CBED

  技术原理 与SAED技术采用近似平行的电子束照射样品不同，CBED通过将电子束会聚成一个直径很小的照明束入射试样，会聚束中的不同角度的电子分别满足不同晶面的布拉格条件，在物镜后…

说明：本文华算科技系统阐述了晶格应变的基本概念、量化方法与多种先进表征技术，内容涵盖从宏观到微观的应变类型，详细介绍了应变张量的数学描述，并深入探讨了X射线衍射、中子衍射、电子衍射…

总结：本文介绍了1928-1970年间材料/物理领域与透射电子显微镜（TEM）相关的经典论文，重点梳理了TEM在晶体缺陷研究中的关键突破（如位错、沉淀物、晶界、无沉淀区等缺陷的成像…