高分辨TEM
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如何分析TEM结果?晶面确认、晶面夹角测量、SAED分析!
说明:本文华算科技介绍了Digital Micrograph软件在TEM数据处理中的三大核心应用:通过FFT分析和标准卡片比对进行晶面确认与标注,利用傅里叶变换和反傅里叶变换测量晶…
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如何分析透射电镜TEM结果?
本文华算科技介绍了利用Digital Micrograph(DM)软件进行TEM数据分析的全流程操作,涵盖DM软件基础功能、注释添加与排版、图片裁剪,还有核心的晶面间距标定方法(含…