粒度表征

  SEM或TEM   扫描电子显微镜或透射电子显微镜直接观察纳米颗粒的形貌，然后进行统计学计量。     2.X射线衍射法 根据衍射图来计算晶体尺寸，可用德拜-谢乐公式：   K…

在对纳米颗粒进行研究时，我们经常需要对其粒度进行表征。纳米颗粒的粒度表征对于理解其物理和化学性质、优化生产过程、确保安全性以及开发新的应用都具有重要意义。通过精确的粒度表征，可以更…