材料表征

说明：在现代电池技术的快速发展中，材料表征技术扮演着至关重要的角色。这些技术不仅帮助我们深入理解电池材料的微观结构和化学性质，更为电池性能优化和寿命延长提供了科学依据。 本文华算科…

说明：EELS表征空位的核心在于探测由空位产生而导致的邻近原子在电子结构和化学环境上的微小变化。本文华算科技就EELS如何表征氧空位这一问题详细介绍EELS原理、分析方法与注意事项…

说明：奥斯瓦尔德熟化是亚稳态分散体系（如过饱和溶液、乳液、固溶体等）中普遍存在的热力学驱动现象，本文华算科技梳理了奥斯瓦尔德熟化的定义、吉布斯-汤姆逊方程及液固-液液-气固三类体系…

为什么相同成分的材料性能差异悬殊？反应过程中活性位点如何动态变化？电子结构与活性的关联始终模糊不清？本文华算科技系统梳理了39种方式主流表征及理论计算方法（XPS、TEM。SEM、…

本文华算科技所探讨的“单原子”主要指代材料科学领域（如单原子催化剂）中分散的、作为特定研究对象的原子，而非物理学中被精确囚禁的孤立单原子。本文将深入剖析XAS如何成为连接宏观性质与…

说明：本文华算科技系统地阐述了氧空位（Ov）的起源、多种可控的构筑方法（如掺杂、还原、刻蚀等）、关键的表征技术（XPS、EPR等）及其提升催化性能的核心作用。 什么是氧空位？ 一般…

说明：本文华算科技系统阐述了电沉积的定义、原理、分类及表征方法。通过阅读，您将掌握电沉积的四步反应机理，理解水系/非水系/熔盐等电解质体系的特性差异，熟悉单金属、合金、复合等沉积类…

说明：电化学阻抗谱（EIS）是一种通过小幅正弦波电信号激励并测量系统响应，以研究材料界面特性与反应动力学的先进分析技术。本文华算科技将系统介绍EIS的基本原理、多种测试模式及其应用…

总结：本文围绕电极材料的透射电子显微镜TEM表征展开，详细介绍了TEM的核心作用、工作原理、结构组成与分类，对比了SEM与TEM的异同点，重点提供了基于Digital Microg…

总结：本文详细介绍了电子衍射技术在半导体异质结构应变缺陷表征中的核心应用，系统阐述了四种关键电子衍射技术——选区电子衍射SAED、会聚束电子衍射CBED、纳米束电子衍射NBD、旋进…

总结：本文围绕半导体异质结构中位错等应变诱导缺陷的电镜观察展开，详细介绍了半导体异质结构中应变诱导缺陷的产生机制，系统阐述了透射电子显微镜TEM的多种成像技术——双束条件TBC成像…

总结：本文详细介绍了冷冻电镜断层成像（Cryo-ET）技术的核心体系，包括技术原理、核心优势与局限性，系统阐述了技术全流程——样品制备、数据采集、断层重建，以及子断层图像平均法（S…

总结：本文系统介绍了透射电镜（TEM）样品制备的完整技术体系，针对有机/生物类软质样品，详细阐述了超薄切片、免疫标记、染色、冷冻固定、化学固定、脱水、渗透、聚合等关键步骤及负染色、…

总结：本文详细介绍了透射电镜（TEM）的核心技术体系，包括基本原理、关键优势与技术限制，系统阐述了TEM的成像衬度机制、分辨率相关知识、仪器结构，以及仪器校准与参数设置。 读者可系…

总结：本文详细介绍了电子叠层衍射成像（Ptychography）技术的核心原理、技术关键、显著优势，系统阐述了该技术与扫描透射电镜（STEM）、四维（4D）STEM的结合应用，同时…

总结：本文详细介绍了准晶（QCs）这一颠覆传统晶体对称性的新材料，包括其发现历程、核心特征、分类，重点阐述了透射电子显微镜TEM技术在准晶结构研究中的核心应用——通过选区电子衍射S…

总结：本文以透射电子显微镜TEM为分析工具，通过两个金属工程实践案例，详细介绍了TEM如何解决实际应用中的材料问题：案例1 针对铜镍锌合金（CuNi10Zn36Mn）热轧边缘开裂现…

总结：本文详细介绍了原位透射电镜（In-situ TEM）技术中核心组件——样品杆的发展历程、分类及应用。涵盖传统加热样品杆、原位气氛加热样品杆、原位液相样品杆，重点阐述了微机电系…

总结：本文详细介绍了聚焦离子束（FIB）与透射电镜（TEM）结合的技术体系，包括TEM的核心分析能力、FIB技术的发展简史与基本原理，重点阐述了FIB在TEM样品制备中的关键作用，…

总结：本文介绍了透射电子显微镜（TEM）在半导体行业的核心应用价值、关键成像技术，以及元素分析技术（EDS、EELS、EFTEM），还阐述了电子断层摄影术、电子全息术等先进技术在半…