首页
计算干货
MS/VASP视频教程
VASP专题
计算培训
测试干货
顶刊解读
学术招聘
登录
注册
华算科技
首页
材料失效分析
材料失效分析
SEM
场发射扫描电镜(FE-SEM)在锂电硅基负极表征中的应用:性能分析与工艺优化
总结:本文重点阐述了场发射扫描电镜(以Apreo2为例)在硅基负极表征中的具体应用 —— 通过 T1/T2/T3探测器多维度观察循环前后硅基负极的形貌、导电网络及SEI膜变化,辅助…
测试表征—华算科技
2025年9月8日
0
0
45