晶格缺陷

说明：本文华算科技主要讲解XRD峰型偏移和宽化的核心知识，理清峰左移、右移的成因及晶面间距、晶格常数的定量分析方法，包含峰宽化的常见原因与Scherrer方程、W-H方法的应用，帮…

总结：本文围绕电极材料的透射电子显微镜TEM表征展开，详细介绍了TEM的核心作用、工作原理、结构组成与分类，对比了SEM与TEM的异同点，重点提供了基于Digital Microg…