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晶体取向分布
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TEM
4D-STEM技术详解4:探测器发展、数据处理与材料表征应用
总结:本文详细介绍了4D-STEM技术的定义(通过阵列化探测器记录扫描过程中每个探针位置的二维衍射图案,形成四维数据集)、命名规则与术语演变,阐述了其探测器的发展历程、核心计算方法…
测试表征—华算科技
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