晶体取向

说明：本文华算科技介绍了晶粒尺寸的基础概念、计算方法。晶粒尺寸是多晶体材料中单个晶粒的平均尺寸，通过统计多个晶粒数据来表征。计算方法包括传统金相法、X射线衍射法、电子显微分析法和机…

XRD简介 XRD（X-ray Diffraction）中文全称是X射线衍射，是一种快速、准确、高效的材料无损检测技术。作为一种表征晶体结构及其变化规律的手段，主要应用为物相分析、…