明场像

说明：本文华算科技介绍了TEM中明场像（BF）、暗场像（DF）与高角环形暗场像（HAADF）的成像原理，明确三者在衬度来源、分辨率、图像特征上的核心差异，还能了解各自适用的样品类型…

在透射电子显微镜（TEM）分析中，形貌图是观察材料微观结构（晶体形貌、缺陷分析、相分布情况等）的核心手段。TEM形貌成像的本质是利用电子束穿过样品后，因样品不同区域的厚度、原子序数…

TEM明场像和暗场像分析技术介绍 研究晶体内部缺陷及界面结构用透射电子显微镜（TEM）的电子衍射。电子衍射根据衍射衬度（衬度：即不同区域的亮暗差别）成像，由衍射衬度原理形成的电子图…

  -专-业-   -稳-定-   -高-效- —— 简介 —— 　 透射电子显微镜（简称透射电镜，TEM）是一种高分辨力、高放大倍数的显微镜，它用聚焦电子束作为照明光源，使用对电…

一、材料做TEM检测时微观结构都关注哪些？ 一般材料在做TEM检测时关注：各种元素、各种相、各种晶体缺陷的种类和含量等，特别是晶体缺陷。这些体现在微观结构：各个相晶粒的尺寸、形状分…

总结：本文以图解形式详细介绍了透射电镜TEM的完整内部结构体系，涵盖核心功能装置——电子源、加速电场、电子束阑、样品杆与铜网、磁透镜、荧光屏与 CMOS 信号收集器，以及真空仓、X…