探测深度
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X射线光电子能谱(XPS/SXPS)的表界面探测能力
说明:华算科技介绍了X射线光电子能谱(XPS)的原理、技术优势、探测能力、应用场景及发展趋势。通过阅读,读者可以深入了解XPS在表界面研究中的“金标准”地位,掌握其化学态分析、深度…
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X射线吸收谱XAS检测方法解析:透射法、荧光产额法与电子产额法的原理对比与适用性分析
说明:X射线吸收谱(X-ray Absorption Spectroscopy, XAS)作为一种强大的材料表征技术,能够为我们提供关于原子尺度的局域化学环境信息,例如键长、配位数…