形貌表征

说明：本文华算科技主要介绍了光学显微镜与扫描电镜的成像原理及性能对比，详细阐述了扫描电镜的工作原理，包括电子束的产生与聚焦、电子束扫描与信号激发、信号检测与成像等步骤，并说明其在材…

说明：本文华算科技介绍了包括SEM、AFM、TEM、XRD、比表面积分析、XPS、电化学性能表征如CV、GCD、EIS以及原位XRD/SEM/TEM/Raman/FTIR。这些技术…

说明：本文华算科技详细介绍了异质结的定义、作用、分类，阐述了如何通过TEM/HRTEM、XRD、EDX、XPS、拉曼光谱、PL光谱、EIS、TPV/TAS、ROS检测表征异质结，以…

说明：本文华算科技介绍了单晶与多晶材料在结构、分类、缺陷演化、电学与磁学行为以及形核与生长行为等方面的差异。单晶具有长程有序的原子排列和单一晶向，而多晶由多个晶粒组成，晶粒间存在晶…

    研究背景           铝作为一种常见的金属材料，对国民经济建设和发展起重要作用，其需求量很大。铝是从铝土矿中提炼而来的，而岩溶型铝土矿床作为铝土矿床的必备类型，通常…

  透射电子显微镜（Transmission Electron Microscopy，简称 TEM）作为现代材料科学、生命科学及纳米技术研究中最重要的分析工具之一，凭借其高分辨率成…

  研究背景            铝合金比强度高，耐腐蚀性好，广泛作用结构材料。激光粉末床熔合(LPBF)作为一种先进的增材制造技术，其快速凝固的特性可以赋予铝合金细晶结构。常温…

研究背景 高熵合金(HEAs)得益于近等原子比或非等原子比的几乎无限组合，使其拥有优异的力学性能，具有很大的应用潜力，特别是面心立方高熵合金（FCC HEAs），具有优异的抗损伤性…

了解更多TEM小知识 ● 点击蓝字关注我们 Stacking fault(堆垛层错) 实际晶体结构中，密排面的正常堆垛顺序遭到破坏或错排时，会产生堆垛层错，简称层错。 堆垛层错（S…

  -专-业-   -稳-定-   -高-效- —— 简介 —— 　 透射电子显微镜（简称透射电镜，TEM）是一种高分辨力、高放大倍数的显微镜，它用聚焦电子束作为照明光源，使用对电…

1. 生物样本的送检类型   用于TEM观察的生物样本，主要为3种类型：组织、离心团和微粒悬液。 其中，动物的肝、肾、肠和植物叶片、根、茎等，就属于组织类样本。组织样本的特点是结构…

扫描电镜（SEM）与透射电镜（TEM）作为材料微观世界探索的两大支柱技术，均利用电子束成像，但原理与应用差异显著。深入理解其区别，有助于研究者精准选择工具，高效揭示物质微观奥秘。 …

透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, TEM）作为现代材料科学和生命科学研究中不可或缺的工具，在纳米科技领域发挥着关键作用。这种强大的…

电子显微镜已经成为表征各种材料的有力工具。 它的多功能性和极高的空间分辨率使其成为许多应用中非常有价值的工具。 其中，两种主要的电子显微镜是透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜…

总结：本文详细介绍了扫描电子显微镜（SEM）像衬度的核心形成原理，重点阐述了形貌衬度、原子序数（成分）衬度、磁衬度、电位衬度、电子通道衬度（ECC）及密度衬度的产生机制，结合二次电…

总结：本文围绕扫描电镜（SEM）技术展开，系统介绍了SEM的成像原理（电子束扫描与信号检测）、核心结构（电子枪、真空系统、电磁透镜、探测器等）、电子束与样品的相互作用机制（弹性 /…

透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）作为现代材料科学和生命科学研究中不可或缺的工具，在纳米科技领域发挥着关键作用。这种强大的显…

说明：透射电镜在材料科学及相关领域中不可或缺。本文主要介绍其最常见的三种类型：TEM用于常规形貌、元素分布及晶体结构分析；HRTEM观测原子排布及缺陷，需超薄样品与严格条件；STE…

说明：在透射电镜（TEM）里，明场和暗场就像给材料“拍照片”的两种不同模式；就像拍照时让大部分光线透过物体，明场成像用的是穿过样品的“直射电子束”（透射束），而暗场则是专门“抓拍”…

说明：这篇文章全面解析了氧空位（Ov，Oxygen vacancy）在电催化中的关键作用、制造策略与表征方法。其内容涵盖了氧空位如何提升材料电导率、改变电子结构、增强催化活性及调节…