形貌分析

01 TEM电子信号类型     02 TEM工作原理   透射电镜（TEM）以“电子束穿透-信号筛选-透镜聚焦-图像重构”为核心逻辑，凭借纳米级甚至原子级的超高分辨率，实现对样品…

扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）与透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）因具有…

说明：本文详细介绍了五种主流电镜测试技术（SEM、TEM、ESEM、EDS、EBSD）的原理、特点、测试项目与样品要求、典型应用场景，展示了这些技术的强大应用价值，为相关研究提供了…

  上期我们了解了球差、色散和像散等会限制电子显微镜的分辨率，那在测试过程中这些问题是如何解决的呢？ 透镜的缺陷如何解决？ 色差：电子枪发射的电子存在能量发散（电子能量差异），参加…

透射电子显微镜（TEM）类似于光学显微镜，不同的是它的光源换成了钨灯丝（或者六硼化镧）发射的电子源，凸透镜片换成了由电磁场形成的电磁透镜。   电磁透镜成像原理     透射电镜以…

透射电子显微镜（Transmission electron microscope，缩写TEM），简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而…

自 20 世纪 80 年代以来，原子力显微镜（Atomic Force Microscopy, AFM）作为一种革命性的表面分析工具，极大地推动了科学研究的发展。1986 年，AF…

合金纳米线是由两种或多种金属元素组成的纳米尺度一维结构，直径通常在纳米级别，长度可达微米或更长。其独特的高长径比和合金成分赋予其与宏观材料截然不同的物理和化学性质。 结构特性： 一…

FIB-SEM的三维重构技术是当前微观结构分析的核心技术之一，其本质是通过“切割-成像-叠加”的循环，将样品内部的二维图像序列重建为三维立体模型。FIB-SEM三维重构技术凭借纳米…

透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）技术，是通过让高能电子束穿透样品，根据电子束的散射差异形成二维图像，从而观察纳米甚至原子尺…

  样品前处理 1. 清洁样品 目的：去除样品表面的杂质、污染物（如灰尘、油污、残留的化学试剂等），防止其掩盖样品真实的微观结构，影响图像质量。 方法：对于固体块状样品，可使用无尘…

1. 简介 孪生诱发塑性（TWIP）钢因其优异的强度与延展性组合以及高应变硬化率，已成为工业领域的重要材料。其卓越的机械性能与位错滑移和变形孪晶密切相关。然而，扩展位错的交叉滑移行…

1. 简介 间隙氧元素会导致钛材料脆化，尤其在低温环境下，这使得钛及其合金制造过程中必须严格控制氧含量。 本研究提出了一种通过晶粒细化的结构策略来缓解该问题。与77K下极度脆性的粗…

1. 简介 本研究探讨了孪晶-孪晶相互作用对镁合金中局部缺陷（如位错）和应力场分布的影响。通过透射电子显微镜（TEM）分析了变形Mg-3wt.%Y合金中的共轴（1012）-（101…

1. 简介 通过X射线衍射（XRD）和高分辨透射电子显微镜（HRTEM）研究了Cu-69.4Ni-3.4Al-27.2（原子百分比）单晶中2H马氏体的三种可能孪生模式（I型、II型…

1. 简介 晶界（GBs）处的化学偏聚在铝合金中已被广泛研究，但关于溶质偏聚与晶界特性依赖关系的实验证据仍然有限。 本研究通过结合能量色散X射线光谱（EDS）、高分辨扫描透射电子显…

1. 简介 本研究探究了一种新型高熵合金（HEA）Fe₃₅Mn₃₅Co₁₀Cr₁₀Ni₁₀（原子百分比）在室温（RT）和-100°C下的层错能（SFE）、变形行为及拉伸性能。通过电…

1. 简介 通过适当的冷轧预变形处理，可显著提升一种新型低层错能沉淀强化多晶镍基高温合金在750°C下的强度与塑性。研究表明，预变形会诱导微观亚结构的形成，包括位错、反相界（APB…

1. 简介 通过实验与数值模拟方法，研究了热老化处理对双相不锈钢中奥氏体相和铁素体相变形行为的影响。重点探讨了铁素体相在热老化过程中发生的调幅分解（spinoidal decomp…

科学拾光：专注科学前沿，传递学术动态，以严谨视角解读科学进展，探索未知领域，助力科学探索之路。 1. 简介 本研究探究了一种新型α+β双相钛合金在400°C时效过程中多种亚稳相（包…