原子级表征

说明：本文华算科技介绍了TEM中明场像（BF）、暗场像（DF）与高角环形暗场像（HAADF）的成像原理，明确三者在衬度来源、分辨率、图像特征上的核心差异，还能了解各自适用的样品类型…

总结：本文详细介绍了叠层成像技术的技术原理（通过采集不同探针位置的会聚束衍射图样，结合计算重构消除像差影响）、在未校正扫描透射电镜（STEM）中的突破性应用（对扭转二硒化钨双分子层…