位错运动
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原位透射电镜在半导体中的应用:实时观察应变与位错演变,助力器件性能优化
总结:本文详细介绍了原位透射电镜技术在半导体研究中的核心应用,围绕半导体异质结构中应变与位错的动态观察展开,阐述了原位TEM的基本原理、技术实现、样品制备方法,重点呈现了其在半导体…
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原位透射电子显微镜(In-situ TEM):材料动态表征与应用场景解析
总结:本文详细介绍了原位透射电子显微镜(In-situ TEM)技术的核心特点(可在外部刺激如温度、应力、电场等条件下动态观察材料原子/纳米级行为)、实验设计逻辑,以及在相变、电池…