透射电镜

1. 简介 在面心立方（FCC）金属中引入可控密度的共格孪晶界（CTBs）是提高强度-延展性积的有效途径。然而，纳米孪晶FCC金属中常见的单臂位错源（SASs）与CTB相互作用的微…

球差是像差的一种，是影响TEM分辨率的主要原因之一。由于像差（球差、像散、彗形像差和色差）的存在，无论是光学透镜还是电磁透镜，其透镜系统都无法做到完美。在光学透镜中，可通过将凸透镜…

TEM 样品的制备方法多样，具体选择取决于材料本身的特性。恰当的制备方式直接影响透射电镜的成像质量与实际观察效果。举例来说，对于粉末样品或分散液，常采用超声分散法进行处理；合金类样…

研究背景 钛合金密度低、强度高、耐腐蚀，广泛应用于航空航天、生物医药等领域。而其中Ti6Al4V几乎占据了全球钛合金产品市场的一半。而定向能量沉积（DED）是一种基于同轴送粉的激光…

透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM）凭借其亚埃级（Å）的高空间分辨率和对电子信号的多样化分析能力，成为金属材料研究中揭示微观结…

在透射电子显微镜（TEM）分析中，形貌图是观察材料微观结构（晶体形貌、缺陷分析、相分布情况等）的核心手段。TEM形貌成像的本质是利用电子束穿过样品后，因样品不同区域的厚度、原子序数…

原位透射电子显微镜（In-situ TEM）技术通过在透射电镜中集成特殊样品台或反应池，使研究人员能在实时、动态条件下观察材料在外界刺激（如加热、拉伸、电场等）下的结构演变，已成为…

原理 透射电镜主要基于电子束与超薄样品相互作用的原理。其利用电子加速枪产生一束高能电子束，经过一系列电磁透镜聚焦和准直后，照射到超薄样品上。电子束穿过样品后，样品中不同区域的原子对…

说明：透射电镜在材料科学及相关领域中不可或缺。本文主要介绍其最常见的三种类型：TEM用于常规形貌、元素分布及晶体结构分析；HRTEM观测原子排布及缺陷，需超薄样品与严格条件；STE…