内容分类
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TEM经典论文解读(1970s):调幅分解理论和高分辨成像
总结:本文介绍了1970年代透射电子显微镜(TEM)领域的多篇经典论文,重点解读了调幅分解理论在Cu-Ni-Fe合金中的实验验证、高分辨透射电子显微镜(HRTEM)成像技术的关键进…
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现代电子显微学待解难题梳理:从衬度差异到结构反推
总结:本文介绍了现代电子显微学领域虽在分辨率提升(如球差校正技术实现亚埃级分辨率)方面取得显著进展,但仍存在的一系列尚未解决的核心问题,包括理论图像模拟与实验显微像衬度差异大、电子…
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4D-STEM技术详解4:探测器发展、数据处理与材料表征应用
总结:本文详细介绍了4D-STEM技术的定义(通过阵列化探测器记录扫描过程中每个探针位置的二维衍射图案,形成四维数据集)、命名规则与术语演变,阐述了其探测器的发展历程、核心计算方法…
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选区电子衍射(SAD)技术解读:从基础理论到实操标定
总结:本文详细介绍了选区电子衍射(SAD)技术的核心原理(基于电子波动性与布拉格定律)、倒易空间的概念(倒易矢量与晶格转换关系),以及不同类型衍射图谱(粉末、单晶、孪晶、多相、双衍…
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电镜技术在陶瓷晶界表征上的应用:理论知识解析、样品制备和数据分析要点
总结:本文详细介绍了透射电镜(TEM)、扫描透射电镜(S/TEM)及相关衍生技术(如EDS、EELS、PEND、4D-STEM等)在陶瓷晶界与异质界面表征中的应用,包括不同成像模式…
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叠层成像技术突破限制:在未校正设备实现 0.44 埃超高分辨率
总结:本文详细介绍了叠层成像技术的技术原理(通过采集不同探针位置的会聚束衍射图样,结合计算重构消除像差影响)、在未校正扫描透射电镜(STEM)中的突破性应用(对扭转二硒化钨双分子层…
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电子能量损失谱(EELS)解读:原理特性、谱图特征与分析、应用场景
总结:本文详细介绍了电子能量损失谱(EELS)技术的核心原理、不同应用模式、谱图特征与分析方法(零损失峰、等离子激元峰、内壳激发电离边等),梳理了该技术从早期反射电子能谱到现代能量…
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单颗粒冷冻电镜技术:解析技术突破、应用价值与未来方向,赋能生物大分子结构研究
总结:本文详细介绍了单颗粒冷冻电镜技术的发展背景、历史演进、核心技术突破(直接电子检测相机提升信号质量、新图像处理算法优化数据解析、显微镜自动化降低使用门槛),以及在结构生物学领域…
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扫描透射电镜(STEM)的相干与非相干成像解析:原理、探测器选择与应用策略
总结:本文详细介绍了扫描透射电镜(STEM)中相干成像与非相干成像的核心概念、特性差异、关键影响因素,以及部分相干成像的特点,同时阐述了不同探测器(ADF、HAADF、cBF)对成…
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冷冻电镜(Cryo-EM):原理、技术挑战与应用场景
总结:本文详细介绍了冷冻电镜(Cryo-EM)的定义、发展历程、核心技术分类(含冷冻透射电子显微镜Cryo-TEM与冷冻传输扫描电镜Cryo-SEM),深入阐述了 “为何需要冷冻样…