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透射电子显微镜（Transmission electron microscope, TEM）是使用最为广泛的电子显微镜之一，和扫描电子显微技术共同组成了电子显微学的“两大支柱”。T…

说明：本文围绕透射电子显微镜（TEM）的检测能力展开，详细介绍了其在材料微观结构表征、晶体结构与晶体学特性分析、成分与化学状态分析、动态过程与原位表征及特殊样品表征五大核心领域的具…

电子显微镜已经成为表征各种材料的有力工具。 它的多功能性和极高的空间分辨率使其成为许多应用中非常有价值的工具。 其中，两种主要的电子显微镜是透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜…

透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, 简称TEM），是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向…

原理 透射电镜主要基于电子束与超薄样品相互作用的原理。其利用电子加速枪产生一束高能电子束，经过一系列电磁透镜聚焦和准直后，照射到超薄样品上。电子束穿过样品后，样品中不同区域的原子对…

软件下载 软件：DigitalMicrograph 版本：1.6 语言：英文 大小：206.24M 安装环境：Win11/Win10/Win8/Win7 32&64位网盘下…

  总结：本文由华算科技整理，以实例演示的方式，详细介绍了Digital Micrograph（DM）软件在TEM图像分析中的基本操作与核心功能、关键分析操作及位错分析流程，同时提…

总结：本文详细介绍了透射电镜TEM结果的分析处理方法，重点围绕Digital Micrograph软件的实操展开，包括HRTEM图像分析和选区电子衍射SAED分析，明确了不同文件格…

总结：本文全面介绍了透射电镜TEM的核心知识体系，包括发展历程、基本原理、核心构造、成像机制与衬度类型，详细阐述了选区电子衍射技术及针对粉末、块状、高分子等不同类型样品的制备方法，…

z zo 总结：本文系统介绍了透射电镜TEM的入门知识，包括基本工作原理、核心组件的功能与分类，详细阐述了 TEM 的应用场景、图像类别及样品要求。 读者可学习到TEM的基础理论与…

总结：本文详细介绍了两种主流电子显微镜技术——透射电子显微镜TEM与扫描电子显微镜SEM的基础理论、工作原理、核心组件，系统对比了两者在成像方式、样品要求、图像特征、加速电压及应用…

总结：本文以图解形式详细介绍了透射电镜TEM的完整内部结构体系，涵盖核心功能装置——电子源、加速电场、电子束阑、样品杆与铜网、磁透镜、荧光屏与 CMOS 信号收集器，以及真空仓、X…

总结：本文围绕电极材料的透射电子显微镜TEM表征展开，详细介绍了TEM的核心作用、工作原理、结构组成与分类，对比了SEM与TEM的异同点，重点提供了基于Digital Microg…

总结：本文详细介绍了原位透射电镜技术在半导体研究中的核心应用，围绕半导体异质结构中应变与位错的动态观察展开，阐述了原位TEM的基本原理、技术实现、样品制备方法，重点呈现了其在半导体…

总结：本文详细介绍了电子衍射技术在半导体异质结构应变缺陷表征中的核心应用，系统阐述了四种关键电子衍射技术——选区电子衍射SAED、会聚束电子衍射CBED、纳米束电子衍射NBD、旋进…

总结：本文围绕半导体异质结构中位错等应变诱导缺陷的电镜观察展开，详细介绍了半导体异质结构中应变诱导缺陷的产生机制，系统阐述了透射电子显微镜TEM的多种成像技术——双束条件TBC成像…

总结：本文围绕透射电镜（TEM）样品的离子减薄制备技术展开，详细介绍了离子减薄过程中损伤（如非晶层形成、表面粗糙化）的产生机制，系统梳理了硅和GaAs材料在不同离子能量、入射角下的…

总结：本文详细介绍了冷冻电镜断层成像（Cryo-ET）技术的核心体系，包括技术原理、核心优势与局限性，系统阐述了技术全流程——样品制备、数据采集、断层重建，以及子断层图像平均法（S…

总结：本文系统介绍了透射电镜（TEM）样品制备的完整技术体系，针对有机/生物类软质样品，详细阐述了超薄切片、免疫标记、染色、冷冻固定、化学固定、脱水、渗透、聚合等关键步骤及负染色、…

总结：本文详细介绍了透射电镜（TEM）的核心技术体系，包括基本原理、关键优势与技术限制，系统阐述了TEM的成像衬度机制、分辨率相关知识、仪器结构，以及仪器校准与参数设置。 读者可系…