内容分类
- 
        
        原位TEM:顶刊案例分享原位透射电子显微镜(In-situ TEM)技术通过在透射电镜中集成特殊样品台或反应池,使研究人员能在实时、动态条件下观察材料在外界刺激(如加热、拉伸、电场等)下的结构演变,已成为… 
- 
        
        看顶刊如何用SAXS—Nature 610, 674–679 (2022):胶体晶文章信息 论文题目:Shape memory in self-adapting colloidal crystals 期刊|卷|页码:Nature volume 610, page… 
- 
        
        X射线与物质的相互作用X射线与物质的相互作用过程相对复杂,一般来说可分为三类。 散射效应;光电效应;热效应; 散射效应 指X射线光子由于和原子碰撞而改变了前进的方向,形成散射线;物质对X射线的散射可分为… 
- 
        
        孪晶及其衍射斑孪晶及其衍射斑 对铜或镁合金有了解的朋友们想必对下面图片里的这种形貌并不陌生: 图片中展示的是很典型的孪晶形貌。所谓孪晶,是指两个晶体(或一个晶体的两部分)沿一个公… 
- 
        
        扫描电镜的能谱元素分析在微区物相检测中的应用本文介绍了扫描电镜的能谱元素分析在导电浆料行业、矿物检测中的应用,所介绍的实例是陈亮维在检测工作中曾经做的样品,在此特向送样人(客户)表达诚恳的谢意。是检测客户和检测者共同促进了扫… 
- 
        
        如何利用TEM分析拉伸孪晶和压缩孪晶了解更多TEM小知识 ● 点击蓝字关注我们 孪生变形 与立方晶格结构金属以位错滑移机制实现塑性变形不同,密排六方的晶格结构需要耦合多种变形机制才能实现任意方向上的塑性变形; 由于… 
- 
        
        如何分析层错(SF)了解更多TEM小知识 ● 点击蓝字关注我们 Stacking fault(堆垛层错) 实际晶体结构中,密排面的正常堆垛顺序遭到破坏或错排时,会产生堆垛层错,简称层错。 堆垛层错(S… 
- 
        
        如何利用TEM快速判断位错类型在透射电子显微镜(TEM)观察过程中,我们常常看能观察到大量位错线(图1),但如何准确区分其类型(刃型位错、螺型位错和混合位错)呢?本文将从分析原理、拍摄参数(g矢量)的选择与位错… 
- 
        
        透射电镜(TEM)能谱数据如何分析?能谱EDS及TIA介绍 电子束照射样品会产生特征X射线; 通过探测和分析X射线可以得到一张按X射线能量大小分布的图谱; 因此EDS可以定性、半定量的确定样品中的大部分元素。 EDS… 
- 
        
        论文中关于TEM常用的英文缩写总结前言 英文缩写词是一个单词或词组的简写形式。 特定的缩写词使得词语更加易懂。 缩写词不仅有效缩短了著作的长度,有时还能显出作者精通该领域。 来看看你对TEM领域的缩写了解多少 01… 
- 
        
        TEM明场像和暗场像分析技术介绍TEM明场像和暗场像分析技术介绍 研究晶体内部缺陷及界面结构用透射电子显微镜(TEM)的电子衍射。电子衍射根据衍射衬度(衬度:即不同区域的亮暗差别)成像,由衍射衬度原理形成的电子图… 
- 
        
        TEM基础知识详解一、材料做TEM检测时微观结构都关注哪些? 一般材料在做TEM检测时关注:各种元素、各种相、各种晶体缺陷的种类和含量等,特别是晶体缺陷。这些体现在微观结构:各个相晶粒的尺寸、形状分… 
- 
        
        教你如何利用DM软件实现标尺校准你测量的 实际需要测量的结果 二图片的差别:测量结果是没有单位, 也就意味着图片测量数据是无效的。 那么 ,如何实现“图片测量”自带单位?————标尺校准如果是DM文件,格式是dm… 
- 
        
        教你如何利用DM软件转化出高质量的TEM高分辨傅里叶图基础知识 #01、傅里叶图(FFT)是什么?能做什么? 傅里叶图是频率空间的二维矢量投影,是和结构因子有关的量,用于物相标定。 #02、选取电子衍射(SAED)是什么?与FFT… 
- 
        
        浅谈面心立方结构的Lomer-Cottrell locks(LC锁)了解更多TEM小知识 ● 点击蓝字关注我们 LC锁的三个问题 1.LC锁是什么?2.TEM高分辨下长什么样?3.能说明什么问题? 问题一:LC锁是什么? LC锁是一种不动位错(se… 
- 
        
        TEM数据处理常见问题了解更多TEM小知识 ● 点击蓝字关注我们 文章围绕三个问题展开 1.测量值没有单位? 2.傅里叶变化做不了? 3. 角度测量工具没有? 一:测量值没有单位? 任意打开一个jpg文… 
- 
        
        扫描透射电子显微镜(STEM)之基本原理与应用1、引言自古以来,人类从未停止过对微观世界的探索,采用波长更短的电子束为光源的电子显微仪器打破了可见光的衍射极限,为人类打开了观察纳米世界的大门,使人们看到了在纳米尺度上研究单一原… 
- 
        
        SEM与TEM区别解析扫描电镜(SEM)与透射电镜(TEM)作为材料微观世界探索的两大支柱技术,均利用电子束成像,但原理与应用差异显著。深入理解其区别,有助于研究者精准选择工具,高效揭示物质微观奥秘。 … 
- 
        
        TEM技术的优势及应用透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, TEM)作为现代材料科学和生命科学研究中不可或缺的工具,在纳米科技领域发挥着关键作用。这种强大的… 
- 
        
        当谈论球差校正透射电镜时,我们在谈论什么?摘 要 透射电子显微镜(简称透射电镜)是能够直观分析材料微结构的最重要工具之一。在透射电镜近百年的发展历史中,近些年来球差校正透射电镜的研发与应用乃是最具革命性的发展,不但进一步延… 
 
                 
        