测试表征技术专区

总结：本文详细介绍了透射电镜TEM结果的分析处理方法，重点围绕Digital Micrograph软件的实操展开，包括HRTEM图像分析和选区电子衍射SAED分析，明确了不同文件格…

总结：本文全面介绍了透射电镜TEM的核心知识体系，包括发展历程、基本原理、核心构造、成像机制与衬度类型，详细阐述了选区电子衍射技术及针对粉末、块状、高分子等不同类型样品的制备方法，…

z zo 总结：本文系统介绍了透射电镜TEM的入门知识，包括基本工作原理、核心组件的功能与分类，详细阐述了 TEM 的应用场景、图像类别及样品要求。 读者可学习到TEM的基础理论与…

总结：本文详细介绍了两种主流电子显微镜技术——透射电子显微镜TEM与扫描电子显微镜SEM的基础理论、工作原理、核心组件，系统对比了两者在成像方式、样品要求、图像特征、加速电压及应用…

总结：本文以图解形式详细介绍了透射电镜TEM的完整内部结构体系，涵盖核心功能装置——电子源、加速电场、电子束阑、样品杆与铜网、磁透镜、荧光屏与 CMOS 信号收集器，以及真空仓、X…

总结：本文围绕电极材料的透射电子显微镜TEM表征展开，详细介绍了TEM的核心作用、工作原理、结构组成与分类，对比了SEM与TEM的异同点，重点提供了基于Digital Microg…

说明：本文华算科技介绍了配位环境的定义、作用机制与五种表征技术，读者可系统学习到如何识别中心原子的配位构型，了解其对催化性能的深远影响。 判断这些信息的重要性在于，它为精准设计高效…

说明：在同步辐射XAS研究中，传统傅里叶变换常因路径重叠与分辨率限制而难以揭示关键结构信息。Wavelet小波变换突破了这一瓶颈，能同时在k–R空间中分辨散射路径、提升信噪比并跟踪…

说明：本文华算科技简要介绍了原位同步辐射X射线吸收光谱（XAS）在电催化研究中的应用，重点解析XANES与EXAFS在识别催化剂电子结构与局部配位环境中的作用，并展示其在揭示电催化…

总结：本文详细介绍了原位透射电镜技术在半导体研究中的核心应用，围绕半导体异质结构中应变与位错的动态观察展开，阐述了原位TEM的基本原理、技术实现、样品制备方法，重点呈现了其在半导体…

总结：本文详细介绍了电子衍射技术在半导体异质结构应变缺陷表征中的核心应用，系统阐述了四种关键电子衍射技术——选区电子衍射SAED、会聚束电子衍射CBED、纳米束电子衍射NBD、旋进…

总结：本文围绕半导体异质结构中位错等应变诱导缺陷的电镜观察展开，详细介绍了半导体异质结构中应变诱导缺陷的产生机制，系统阐述了透射电子显微镜TEM的多种成像技术——双束条件TBC成像…

总结：本文围绕透射电镜（TEM）样品的离子减薄制备技术展开，详细介绍了离子减薄过程中损伤（如非晶层形成、表面粗糙化）的产生机制，系统梳理了硅和GaAs材料在不同离子能量、入射角下的…

总结：本文详细介绍了冷冻电镜断层成像（Cryo-ET）技术的核心体系，包括技术原理、核心优势与局限性，系统阐述了技术全流程——样品制备、数据采集、断层重建，以及子断层图像平均法（S…

总结：本文系统介绍了透射电镜（TEM）样品制备的完整技术体系，针对有机/生物类软质样品，详细阐述了超薄切片、免疫标记、染色、冷冻固定、化学固定、脱水、渗透、聚合等关键步骤及负染色、…

总结：本文详细介绍了透射电镜（TEM）的核心技术体系，包括基本原理、关键优势与技术限制，系统阐述了TEM的成像衬度机制、分辨率相关知识、仪器结构，以及仪器校准与参数设置。 读者可系…

总结：本文详细介绍了电子叠层衍射成像（Ptychography）技术的核心原理、技术关键、显著优势，系统阐述了该技术与扫描透射电镜（STEM）、四维（4D）STEM的结合应用，同时…

总结：本文详细介绍了准晶（QCs）这一颠覆传统晶体对称性的新材料，包括其发现历程、核心特征、分类，重点阐述了透射电子显微镜TEM技术在准晶结构研究中的核心应用——通过选区电子衍射S…

总结：本文以时间为主线，详细介绍了透射电子显微镜（TEM）技术的发展与碳材料研究相互促进的历史进程，涵盖TEM技术的核心演进，以及其在碳材料领域的关键成果——从20世纪40年代观察…

总结：本文详细介绍了材料科学领域透射电子显微镜（TEM）样品的制备技术体系，明确了TEM样品需满足的7项基本要求，系统阐述了5大核心制备方法——TEM样品载网法、离子减薄、电解抛光…