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TEM数据分析
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项目简介

透射电子显微镜(TEM)数据分析服务能够标定晶格间距和衍射花样等关键信息。分析方法主要基于文献对照以及积累的晶体学和电子显微镜知识。我们的分析团队拥有丰富的经验,并助力已利用TEM技术发表多篇高水平学术文章。

服务须知:数据分析结果基于您提供的测试数据,数据所反映的信息即为分析的基础。我们致力于为您提供准确、专业的分析结果。


样品要求

图片请尽量提供DM3格式的原始文件以及XRD数据对应的PDF卡片,高质量的高分辨图片


结果展示

衍射晶面标定、晶格间距测量、衍射花样模拟


常见问题

Q1:TEM衍射花样标定需要提供哪些信息?

A:衍射花样的标定一般要结合XRD,所以需要提供样品的XRD数据或样品的物相组成。

Q2:在TEM分析中,如何确保数据处理以便用户理解分析结果?

A:TEM分析是基于已获知的测试数据以及 TEM数据处理规则,我们尊重事实,保证分析数据的准确性和合理性,但不能保证分析结果完全符合您的预期。

Q3:针对尝试标定未出结果的情况,具体的收费标准是什么?是否可以提供一些示例?

A:尝试标定未出结果,需支付相应的问题分析与咨询建议费用;根据这些结果写出对应问题。


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